PID UTN de Equipos consolidados sin Incentivos

Código UTN: CCTCBVM0008351TC

Fecha de Inicio: 01/01/2022 - Fecha de Finalización: 31/12/2024

Dirección: Dr. Eduardo ROMERO

Resumen

El presente proyecto aborda el test de circuitos configurables analógicos embebidos en microcontroladores del estado del arte. Se propondrán soluciones de test en campo, orientadas a determinar el correcto funcionamiento de los subsistemas configurables. La idea motivadora es la de brindar a los potenciales usuarios soluciones que le permitan integrar en sus sistemas rutinas de test que otorguen mayor confiabilidad a los sistemas que implementen, en especial aquellos destinados a aplicaciones de cierta criticidad. Tomando como casos de estudio circuitos reconfigurables analógicos comerciales, se utilizará como insumo de investigación solamente la información disponible para el usuario (brindada por el fabricante). Esta permite un acercamiento limitado a la estructura interna del dispositivo, por lo que se complementará con campañas de caracterización propias, basadas en experimentación intensiva sobre los circuitos tratados. Se aplicarán tanto los enfoques estructurales como comportamentales del test, con la idea de proponer esquemas para detectar fallas en la estructura como desviaciones en las especificaciones de los circuitos tratados. Este último enfoque permitirá al usuario la implementación de estrategias de adaptación con el fin de superar las degradaciones del sistema. Esto será posible gracias a la natural redundancia de recursos normalmente encontrada en este tipo de sistemas. Se explorará también el uso de estos esquemas, particularmente aquellos basados en metodologías heurísticas. En particular, se aplicarán estrategias de rediseño en campo que pueden concebirse como extensión de investigaciones previas en nuestro grupo.